溫度均勻度不達(dá)標(biāo)的高低溫試驗(yàn)箱有哪些危害?
溫度均勻度不達(dá)標(biāo)的高低溫試驗(yàn)箱會(huì)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果、設(shè)備本身以及產(chǎn)品研發(fā)生產(chǎn)等方面帶來(lái)諸多危害,具體如下:
數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確:由于箱內(nèi)溫度不均勻,被測(cè)試樣品不同部位所處的溫度環(huán)境有差異,導(dǎo)致測(cè)試得到的性能數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映樣品在設(shè)定溫度下的實(shí)際情況,例如在對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行低溫測(cè)試時(shí),若試驗(yàn)箱溫度不均勻,可能使部分元件所處溫度比設(shè)定低溫更低,從而得出過(guò)于保守的性能數(shù)據(jù),或者使部分元件溫度未達(dá)到設(shè)定低溫,導(dǎo)致性能問(wèn)題未被檢測(cè)出來(lái)。
重復(fù)性差:在不同批次的試驗(yàn)中,由于溫度不均勻的情況具有不確定性,使得相同條件下的試驗(yàn)結(jié)果無(wú)法重復(fù),降低了試驗(yàn)數(shù)據(jù)的可信度和參考價(jià)值,不利于對(duì)產(chǎn)品性能進(jìn)行準(zhǔn)確評(píng)估和分析。
無(wú)法模擬真實(shí)環(huán)境:在實(shí)際應(yīng)用中,產(chǎn)品通常是在相對(duì)均勻的溫度環(huán)境下工作,試驗(yàn)箱溫度均勻度不達(dá)標(biāo)就無(wú)法準(zhǔn)確模擬產(chǎn)品的實(shí)際使用環(huán)境,使得試驗(yàn)結(jié)果與實(shí)際情況存在較大偏差,不能為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供有效的依據(jù)。
加速部件老化:溫度不均勻會(huì)使試驗(yàn)箱內(nèi)部的制冷、加熱等部件工作負(fù)荷不均衡,某些部位長(zhǎng)期處于高溫或低溫狀態(tài),加速部件老化,縮短設(shè)備使用壽命,例如加熱管在溫度過(guò)高的區(qū)域可能會(huì)因過(guò)熱而損壞,制冷系統(tǒng)在局部低溫過(guò)低的情況下可能會(huì)出現(xiàn)故障。
增加能耗:為了維持設(shè)定溫度,溫度不均勻的試驗(yàn)箱需要不斷地進(jìn)行制冷或加熱調(diào)節(jié),導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)行時(shí)間延長(zhǎng),能耗增加,造成能源的浪費(fèi)和使用成本的上升。
研發(fā)周期延長(zhǎng):不準(zhǔn)確的試驗(yàn)結(jié)果可能使研發(fā)人員對(duì)產(chǎn)品性能產(chǎn)生誤判,需要進(jìn)行更多次的試驗(yàn)和調(diào)整,導(dǎo)致產(chǎn)品研發(fā)周期延長(zhǎng),增加研發(fā)成本和時(shí)間成本,影響產(chǎn)品的上市進(jìn)度。
生產(chǎn)質(zhì)量隱患:如果依據(jù)不達(dá)標(biāo)的試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行產(chǎn)品生產(chǎn),可能會(huì)使產(chǎn)品在實(shí)際使用中出現(xiàn)性能不穩(wěn)定、壽命縮短等問(wèn)題,增加產(chǎn)品的售后維修率和故障率,影響企業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量和聲譽(yù),給企業(yè)帶來(lái)經(jīng)濟(jì)損失和市場(chǎng)風(fēng)險(xiǎn)
